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揭示UiO-66金属有机框架的复杂结构:实验与理论的协同结合
摘要:
本文结合XRPD、EXAFS、IR、UV-vis光谱及从头算周期性DFT计算,详细表征UiO-66(Zr-BDC MOF)羟基化与去羟基化形式的结构、振动及电子性质,确定其在常见溶剂、酸碱中的稳定性,验证结构精修结果,对比实验与计算的IR、带隙数据,强调多方法协同对理解复杂材料的必要性。

研究背景:
1.行业问题和研究现状:MOFs结构精修难,XRPD难测去羟基化材料Zr₆O₆单元畸变;多数MOFs稳定性差,虽有UiO-66类高稳定性MOFs报道,但结构细节及脱水/水合可逆性等机制未明确。
2.本文创新:提出XRPD/EXAFS/从头算协同方法,解决单一技术局限;明确UiO-66羟基化与去羟基化结构变化及脱水/水合可逆性;揭示缺陷对其热稳定性的影响。
实验部分:
1.UiO-66合成:将0.227 mmol ZrCl₄与0.227 mmol H₂BDC溶于340 mmol DMF和0.227 mmol H₂O,120℃密封反应24h,冷却后过滤、DMF洗涤、室温干燥;结果:获UiO-66晶体,N₂吸附呈I型等温线,BET比表面积1069 m²/g。
2.稳定性测试:热稳定性:25-450℃空气氛围中测XRPD,TGA-MS追踪重量变化与气体产物;化学稳定性:将去溶剂化UiO-66在水、苯等溶剂及HCl、NaOH中室温搅拌,测XRPD;结果:空气中小375℃保持结晶性,500℃始失苯环,在多数溶剂及酸碱中结构稳定。
3.结构精修实验:用TOPAS软件精修XRPD数据,Athena/Arthemis处理EXAFS数据,CRYSTAL软件做DFT计算;结果:确定羟基化(Fm-3m)与去羟基化(R-3)空间群,获原子坐标、键长等参数。
分析测试:
1.XRPD分析:羟基化UiO-66晶胞参数a=20.7551(5)Å,去羟基化后a=20.7004(2)Å;溶剂/机械处理后衍射峰重叠,证明结构稳定。
2.EXAFS分析:羟基化Zr配位数8,Zr-μ₃-O键长2.087Å、Zr-O1键长2.235Å;去羟基化后配位数7,Zr-μ₃-O键长2.06Å,Zr-Zr键分裂为3.35Å(8/3配位)和3.74Å(4/3配位),揭示Zr₆簇畸变。
3.IR分析:羟基化样品3450cm⁻¹(吸附水)、3675cm⁻¹(孤立OH)有峰;300℃去羟基化后OH峰消失,3672cm⁻¹峰重现,证明脱水/水合可逆。
4.UV-vis分析:羟基化带隙4.07eV,去羟基化3.94eV;计算值分别为4.56eV、4.19eV,揭示有机 linker调控带隙。
5.结果揭示性质与机理:UiO-66热稳定性源于Zr₆簇结构,去羟基化时Zr₆O₄(OH)₄→Zr₆O₆,框架不变;缺陷( linker空缺)降低热稳定性;带隙由有机 linker主导,可通过功能化调控。

总结:
1.主要研究结果:明确UiO-66两种形态结构,证实其高溶剂/酸碱/热稳定性,量化缺陷对稳定性影响,揭示带隙调控机制。
2.创新突破:建立多技术协同研究方法,发现Zr₆簇可逆畸变机制,阐明缺陷-稳定性关联。
3.潜在意义:为MOFs结构解析提供范式,推动其在催化、光催化等领域应用,为功能化MOFs设计提供依据。
Disclosing the Complex Structure of UiO-66 Metal Organic Framework: A Synergic Combination of Experiment and Theory
文章作者:Loredana Valenzano, Bartolomeo Civalleri, Sachin Chavan, Silvia Bordiga, Merete H. Nilsen, Søren Jakobsen, Karl Petter Lillerud, Carlo Lamberti
DOI:10.1021/cm1022882
文章链接:https://pubs.acs.org/doi/10.1021/cm1022882
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